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| テーマ： |
「ナノ領域の磁気計測技術」 |
| 日 時： |
平成24年6月8日（金）13:00 - 16:40 |
| 場 所： |
名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリ3階ベンチャーホール |
| 世話人： |
加藤剛志（名大），大谷義近（東大），早川純（日立），長浜太郎（北大） |
| 問い合わせ先： |
加藤（名大）
takeshik＜at＞nuee.nagoya-u.ac.jp
(＜at＞を@にして送信下さい)
TEL: 052-789-3304 |
| プログラム： |
| 13:00 - 13:40 |
「XFEL SACLAにおける利用研究」
富樫格（高輝度光科学研究センター） |
| 13:40 - 14:20 |
「電子線ホログラフィーを用いた３次元磁場再構成」
常田るり子，鹿島秀夫，原田研，池田正樹，岩根智広，菅原昭，高口雅成（日立中研） |
| 14:20 - 15:00 |
「レーザー励起光電子顕微鏡によるナノスケール磁気イメージング」
谷内敏之（東大） |
| 15:00 - 15:20 |
休憩 |
| 15:20 - 16:00 |
「電子線小角散乱法によるスピントロニクス研究」
戸川欣彦（大阪府立大） |
| 16:00 - 16:40 |
「Spin SEM」
小池和幸（北大） |
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