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| テーマ： |
「スピン計測・評価技術」 |
| 日 時： |
平成21年12月11日（金）13:30 - 16:50 |
| 場 所： |
名古屋大学ベンチャービジネスラボラトリ3階ベンチャーホール
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| 世話人： |
加藤剛志（名大），小野輝男（京大），黒岩丈晴（三菱電機），大森広之（ソニー） |
| 問い合わせ先： |
加藤（名大） takeshik＜at＞nuee.nagoya-u.ac.jp（＜at＞を@にして送信下さい）
TEL: 052-789-3304 |
| プログラム： |
| 13:30 - 14:15 |
整流効果によるスピンダイナミックス計測
山口明啓，元井桂一，宮島英紀，山岡武博*，内山剛**，内海裕一***（慶應大，*SIIナノテクノロジー，**名大，***兵庫県立） |
| 14:15 - 15:00 |
3DAP/TEMによる多層薄膜の組成解析
宝野和博，大久保忠勝（物材機構） |
| 15:00 - 15:20 |
休憩
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| 15:20 - 16:05 |
磁気力顕微鏡を用いた先端計測の試み− ベクトル磁場計測法ならびに交流磁場計測法の開発 −
斉藤準，江川元太，吉村哲（秋田大） |
| 16:05 - 16:50 |
単一Co/Pt磁性ナノドットのns領域における磁化反転実験
菊池伸明，岡本聡，北上修（東北大） |
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