第66回化合物新磁性材料専門研究会

走査型トンネル顕微鏡/分光法を活用した物性研究の新展開

走査型トンネル顕微鏡/分光法（STM/STS）測定は結晶最表面の原子や局所状態密度を観測できるツールとしてこれまで研究利用されてきた。一方最近では、STM/STS測定により得られる情報の詳細な解析や、本手法で使用するツールの工夫、本手法と他の合成・測定手法と組み合わせ等により、得られる情報の幅が格段に広がり、新規な物性研究領域の開拓へとつながっている。本研究会では、上記した手法を活用している研究者にそれぞれの成果を紹介して頂くことにより、本手法を利用してどのようなことが出来るのか、どんな情報を抽出できるのか等を概観し、今後の研究展開に関して活発に議論したい。チュートリアル講演では走査型トンネル顕微鏡/分光法でできることについて簡単に解説する。

日時：　2019年6月25日(火) 13:00-17:00
場所：　日本大学理工学部駿河台キャンパス一号館CSTホール
　　　（東京都千代田区神田駿河台1-8-14）
参加費：　無料
問い合わせ先：　日本大学理工学部物理学科　出村郷志
　　　　　　　　demura.satoshi_at_nihon-u.ac.jp(_at_は@に変換してください。)　　　　　　　　

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